1NM掃描電遷移粒徑譜儀

30多年來，TSI的SMPS粒徑譜儀被廣泛作為測量亞微米和低納米范圍內氣溶膠粒徑分布的標準。用戶通過儀器和3757型納米增強CPC以及3086型差分靜電遷移分析儀的配合使用，可以以高分辨率和高速度測量粒徑和數(shù)量濃度，并監(jiān)測小于1nm的工程和天然氣溶膠粒子的反應動力學和新粒子生成。

型號：1NM掃描電遷移粒徑譜儀

品牌：美國TSI

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1NM掃描電遷移粒徑譜儀特點與優(yōu)勢

快速獲得粒徑和數(shù)量濃度的高分辨率數(shù)據(jù)

·優(yōu)化使擴散損失最小

·1至50nm間>109個通道

·配合3081A長DMA差分靜電遷移分析儀使用，可測量從1nm到1µm 3個粒徑數(shù)量級的粒子

模塊化組件設計，可以根據(jù)用戶測量需求定制，例如單獨使用1nm CPC等

內置診斷和自動檢測系統(tǒng)組件，可以獲得可靠和可重復的測量數(shù)據(jù)

易于安裝和使用的氣溶膠儀器管理器（AIM）軟件

多功能的粒子測量方式：適用于多模樣品

1NM掃描電遷移粒徑譜儀應用范圍

基礎氣溶膠研究

通過粒子源（如火焰合成、激光燒蝕、火花產(chǎn)生和成核/凝結）研究粒子成核和粒子生長。

燃燒和發(fā)動機排氣研究（有機燃料、低于3nm的排放、天然氣發(fā)動機、塑料成型和焊接

過濾研究

吸入或暴露室研究

*SMPS光譜儀包含3082型分級器、1nm DMA差分靜電遷移分析儀、3757型納米增強儀和3750型凝聚核粒子計數(shù)器等組件。

1NM掃描電遷移粒徑譜儀技術資料

●產(chǎn)品資料一

1NM掃描電遷移粒徑譜儀產(chǎn)品選配件

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